English
|
正體中文
| 简体中文 |
全文笔数/总笔数 : 62797/95867 (66%)
造访人次 : 3732176 在线人数 : 373
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by
NTU Library & TKU Library IR team.
搜寻范围
全部機構典藏
工學院
機械與機電工程學系暨研究所
--會議論文
查询小技巧:
您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
进阶搜寻
主页
‧
登入
‧
上传
‧
说明
‧
关于機構典藏
‧
管理
淡江大學機構典藏
>
工學院
>
機械與機電工程學系暨研究所
>
會議論文
>
Item 987654321/98908
数据加载中.....
书目数据导出
Endnote RIS 格式
Bibtex 格式
引文信息
jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件:
https://tkuir.lib.tku.edu.tw/dspace/handle/987654321/98908
题名:
微米級金屬表面粗糙度之平面偏振散射光量測
作者:
劉承揚
;
張力仁
;
王凱平
贡献者:
淡江大學機械與機電工程學系
关键词:
偏振散射光
;
表面粗糙度
;
非接觸式
日期:
2014-08
上传时间:
2014-09-25 09:18:32 (UTC+8)
摘要:
本文主要研究探討微米級金屬表面粗糙度之平面偏振散射光量測,以取代傳統的接觸式量測。在實驗方面,我們自行設計並且架設一套二維非接觸式的自動光學系統來量測微米級金屬表面粗糙度的散射光場,並自行撰寫程式加以分析。在試片方面,本文選用Ra = 0.05 μm、0.1 μm、0.2 μm、0.4 μm、0.8 μm、1.6 μm等,各種不同表面粗糙度的標準試片,針對散射角以每5度進行量測。本文研究結果證實此非接觸式系統可精準量測出微米級金屬表面粗糙度與表面特徵。
關聯:
第十八屆奈米工程暨微系統技術研討會
显示于类别:
[機械與機電工程學系暨研究所] 會議論文
文件中的档案:
档案
描述
大小
格式
浏览次数
B02-22.pdf
paper
1472Kb
Adobe PDF
1971
检视/开启
index.html
議程
0Kb
HTML
127
检视/开启
在機構典藏中所有的数据项都受到原著作权保护.
TAIR相关文章
DSpace Software
Copyright © 2002-2004
MIT
&
Hewlett-Packard
/
Enhanced by
NTU Library & TKU Library IR teams.
Copyright ©
-
回馈