English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 49103/83224 (59%)
造訪人次 : 7029521      線上人數 : 43
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library & TKU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/7590


    題名: 以資料路徑為基礎之超大型積體電路暫存器轉移層次描述的驗證與診斷方法
    其他題名: A Data-Path Based Verification and Diagnosis Mechanism for RTL Description of VLSI Circuit
    作者: 饒建奇
    貢獻者: 淡江大學電機工程學系
    日期: 2004
    上傳時間: 2009-03-16 16:49:31 (UTC+8)
    摘要: 隨著數位雜性和速度與日遽增,設計者必須在高層次來設計電路才能符合市 場的需求,因為邏輯合成可作暫存器轉移層次﹙Register Transfer Level, RTL﹚ 到實際線路的轉換,所以現今的趨勢大部份是在暫存器轉移層次做設計的工作。 在現今設計的流程中,設計錯誤的發生大多於硬體描述語言﹙Hardware Description Languages, HDLs﹚行為描述的階段,實際的設計以及設計規格之 間在功能上的不吻合經常會發生。然而,因為現今的數位設計的複雜度越來越高 的情況之下,以手工的方式從程式中找到錯誤的位置越來越困難。 在這次計畫中,我們提供了以資料路徑為基礎的自動錯誤診斷之有效方法, 來找尋錯誤可能發生的範圍,對於這範圍,我們首先去除掉一些不可能造成錯誤 的敘述以獲得一個敘述的集合稱之為錯誤空間﹙error space﹚。再者,我們試著 評估在錯誤空間裡的敘述為真正造成錯誤的可能性,根據這可能性,我們以一個 優先次序將這些敘述顯示出來,藉此,來縮短除錯的時間。
    顯示於類別:[電機工程學系暨研究所] 研究報告

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    932215E032002.pdf52KbAdobe PDF551檢視/開啟

    在機構典藏中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    TAIR相關文章

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library & TKU Library IR teams. Copyright ©   - 回饋