泛用型可攜式電力品質量測分析與警示儀之系統晶片設計

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題名:	泛用型可攜式電力品質量測分析與警示儀之系統晶片設計
其他題名:	Design of the System-on-Chip for the General Purpose and Portable Power Quality Measurement-Analysis-Index Meter
作者:	蕭瑛東
貢獻者:	淡江大學電機工程學系
日期:	2004
上傳時間:	2009-03-16 16:46:49 (UTC+8)
摘要:	本研究計畫擬以系統晶片技術與吾人先前研究成果為基礎，研發泛用型可攜式電力品質量測分析警示儀之系統晶片，可應用於電力系統之電力品質之量測與分析，並提供電力品質嚴重等級指標與警示。本計畫分三年進行，第一年研究電力品質分析演算法，擬就典型之電力品質問題—諧波、電壓閃爍、電壓突升或突降、電力中斷、三相不平衡等，分別利用小波及克拉克等轉換技術分析其中特性，如大小、頻率、區間、發生率等等，並判別其來源屬性為自生性(干擾源)或外入性(受干擾)。第二年發展電力品質指標計之演算法，包括(1)整體電力品質評估指標，如系統即時平均均方根值變化頻率指標和系統暫時平均均分根變化頻率指標；(2)各類電力品質嚴重等級程度評斷。由分析階段所得到之各種電力品質特性參數，利用模糊邏輯和可適式技巧計算電力品質相關評估指標及推論電力品質之嚴重等級；第三年以系統晶片硬體架構實現一泛用型可攜式電力品質儀，具分析與警示等功能。因系統晶片乃將微處理器、記憶體、邏輯控制和演算法等等整合設計於一晶片中，具有低成本，小體積，運算速度快等特性。
顯示於類別:	[電機工程學系暨研究所] 研究報告

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