隨機移除之逐步型二設限樣本對雙參數指數分配參數之區間估計及未來觀測值之預測區間

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題名:	隨機移除之逐步型二設限樣本對雙參數指數分配參數之區間估計及未來觀測值之預測區間
其他題名:	Interval Estimation of Two-Parameter Exponential Distribution under Progressive Type II Censoring with Random Removals and the Prediction Interval of the Future Observation
作者:	吳淑妃
貢獻者:	淡江大學統計學系
關鍵詞:	逐步型二設限樣本;一般化逐步型二設限樣本;指數分配;信賴區間;信賴區域;Monte Carlo 模擬法
日期:	2004
上傳時間:	2009-03-16 13:56:37 (UTC+8)
摘要:	有時因時間、成本的限制或資料蒐集時人為的疏失，而需面對不完整設限資料。指數分配在壽命檢測與可靠度問題上佔據一個很重要的地位，特別是工業產品壽命的檢測領域，一般而言，指數壽命分配適用於失敗率穩定的產品，一般電子產品（例如：燈泡、燈管、變電器…等等）均具此特性。所以本研究針對隨機移除之逐步型二設限樣本及隨機移除之一般化逐步型二設限樣本, 對具有尺度參數θ與位置參數μ之雙參數指數分配之參數進行區間估計及信賴區域之研究. 同時提出未來觀測值和未來等候時間的預測區間。另外, 我們給一個數值例子來示範這些估計與預測結果,並用Monte Carlo 模擬法,來評估這些估計與預測結果之表現.
顯示於類別:	[統計學系暨研究所] 研究報告

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