| 摘要: | 有時因時間、成本的限制或資料蒐集時人為的疏失，而需面對不完整設限資料。指數分配 在壽命檢測與可靠度問題上佔據一個很重要的地位，特別是工業產品壽命的檢測領域，一 般而言，指數壽命分配適用於失敗率穩定的產品，一般電子產品（例如：燈泡、燈管、變 電器…等等）均具此特性。所以本研究針對隨機移除之逐步型二設限樣本及隨機移除之一 般化逐步型二設限樣本, 對具有尺度參數θ與位置參數μ之雙參數指數分配之參數進行 區間估計及信賴區域之研究. 同時提出未來觀測值和未來等候時間的預測區間。另外, 我 們給一個數值例子來示範這些估計與預測結果,並用Monte Carlo 模擬法,來評估這些估計 與預測結果之表現. |