English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 64178/96951 (66%)
造訪人次 : 10743217      線上人數 : 18992
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library & TKU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    請使用永久網址來引用或連結此文件: https://tkuir.lib.tku.edu.tw/dspace/handle/987654321/45698


    題名: 半導體微型感測器與非破壞性檢測
    作者: 楊龍杰;張培仁
    貢獻者: 淡江大學機械與機電工程學系
    日期: 1997-07
    上傳時間: 2010-03-26 19:46:15 (UTC+8)
    出版者: 機械月刊雜誌社
    摘要: 小而美的微機電系統(Micro-Electro-Mechanical Systems)技術,近年來已廣受注目。其技術略分為感測器(sensor)與制動器(actuator)二大部分,而感測器之發展又早於制動器。事實上,在1980年代後期提出微機電系統、或微系統技術(Micro-System Technology) 等名稱之前,許多半導體感測器與微細加工之先期研究,均集中列入微電子的範疇; 此可由其文獻之出處面見一斑。本文即基於尋求跨技術互動與應用之動機,以半導體微型加速度計之製作為肇始,發現其可應用於非破壞性檢測之暫態彈性波法,使檢測之結果更為直接與準確。最後並回過頭來以非破壞性檢測之超音波法,監控矽質薄膜之厚度,提供體型微細加工另一種增益精度的途徑。
    關聯: 電子月刊3(7)=24,頁145-151
    顯示於類別:[機械與機電工程學系暨研究所] 期刊論文

    文件中的檔案:

    檔案 大小格式瀏覽次數
    index.html0KbHTML56檢視/開啟

    在機構典藏中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    TAIR相關文章

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library & TKU Library IR teams. Copyright ©   - 回饋