光訊號雜訊比的監控裝置與方法

淡江大學機構典藏 > 工學院 > 電機工程學系暨研究所 > 專利 > Item 987654321/44539

jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: https://tkuir.lib.tku.edu.tw/dspace/handle/987654321/44539

题名:	光訊號雜訊比的監控裝置與方法
其它题名:	Monitoring apparatus and method of optical signal-to-noise ratio
作者:	李三良;楊淳良;龔佩敏;徐達儒;楊明曉;周雲龍
贡献者:	淡江大學電機工程學系
日期:	2006-02-11
上传时间:	2010-03-26 16:16:25 (UTC+8)
摘要:	一種光訊號雜訊比的監控裝置與方法，可應用在緊密分波多工光傳輸系統上。本裝置包含一光循環器、一可調式光濾波器、一調制訊號、一調制反射器與二個檢光二極體。本發明利用調制反射器的調制與反射功能，讓光訊號通過光濾波器一次，光雜訊通過光濾波器二次。當可調式光濾波器對整個頻譜進行掃描濾波時，可同時分別由二個檢光二極體偵測出光訊號與光雜訊的光功率值，再據以算出每一光通道的光訊號雜訊比值。本發明之整個模組可複合積體化在一片晶片上，且在與一波長鑑別器結合為一光通道分析儀之後，更能監控光通道位置、波長漂移量及光訊號雜訊比值等參數。
显示于类别:	[電機工程學系暨研究所] 專利

文件中的档案:

没有与此文件相关的档案.

在機構典藏中所有的数据项都受到原著作权保护.

TAIR相关文章