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    題名: 韋伯失效分配檢查程序之探討
    其他題名: A modified inspection policy for the Weibull failure distributions
    作者: 林千代;Lin, Chien-tai;胡祝惠;Hu, J.
    貢獻者: 淡江大學數學學系
    關鍵詞: 二分法;列線圖;韋伯分配
    日期: 1998-09-01
    上傳時間: 2010-01-28 07:51:54 (UTC+8)
    出版者: 中國統計學會
    摘要: Munford 和 Shahani(1972)曾提出的一個參數(p)的檢查程序來決定何時須對 機器進行檢驗,以及時查出機器的失效狀態以減少因未發現所引起的成本損失。本文乃特別 針對機器會發生失效狀態的時間是呈現韋伯失效分配來加以討論。 不同於 Munford 和 Shahani ( 1973 )所用的列線圖( nomogram ),我們以二分法為演算基礎的數值計算方 法求取最佳檢查程序參數的數值。此一方法可以迅速地計算出最佳檢查程序的參數值,進而 計算出依序的檢驗時間。 此外,我們亦針對 Barlow 等( 1963 )所討論之最佳檢查程序 (BL )作一修正。並就最小期望成本和各次檢驗時間所花費的計算時間,對此一修正後的 BL檢查程序和 Munford 和 Shahani 所提之最佳檢查程序( MS )作一比較。比較結果發現 :在 P<0.2 時,使用修正後的 BL 檢查程序所得之期望成本較小;但在 P 值較大時,則仍 採 MS 檢查程序為佳。
    關聯: 中國統計學報 36(3),頁 227-244
    顯示於類別:[數學學系暨研究所] 期刊論文

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