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    題名: 次微米粒子濾餅過濾之濾餅表面孔隙度
    其他題名: The surface porosity of cake in cake filtration of submicron particles
    作者: 黃國楨;呂維明
    貢獻者: 淡江大學化學工程與材料工程學系
    關鍵詞: 濾餅過濾;布朗動態模擬;次微米粒子;表面孔隙度;力分析;Cake Filtration;Brownian Dynamic Simulation;Submicron Particle;Surface Porosity;Force Analysis
    日期: 1996-11
    上傳時間: 2010-01-11 11:47:12 (UTC+8)
    出版者: 桃園縣中壢市 : 中央大學
    摘要: 本研究提出了一個新的模型來預測次微米粒子在濾餅過濾中的濾餅表面孔隙度。並討論影響粒子堆積的主要因素:濾速、粒徑、界達電位、以及電解質濃度等。當流體拉曳力和淨粒子間作用力相等時,濾餅會堆積得最緊密;在小的濾速下,一定粒徑之次微米粒子在同一表面電位下,濾餅之孔隙度會隨著濾速之增加而減小。但在大濾速的範圍下,孔隙度則會隨著濾速增加而變大。在低介達電位下,粒子的孔隙度會隨著粒徑增大而增大,隨電解質濃度增加而降低。而在高介達電位的區域下,則趨勢會相反。本研究的結果和布朗動態模擬的數值非常接近,但只需要很短的計算時間。
    關聯: 輸送現象與其應用專題研討會專輯=Proceedings of 1996 Symposium on Transport Phenomena and Applications,頁491-496
    顯示於類別:[化學工程與材料工程學系暨研究所] 會議論文

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    次微米粒子濾餅過濾之濾餅表面孔隙度_中文摘要.pdf113KbAdobe PDF32檢視/開啟

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