淡江大學機構典藏:Item 987654321/27926
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    题名: Calibration of the operating parameters for an HB5 STEM instrument
    作者: 林震安;Lin, J. A.;Cowley, John M.
    贡献者: 淡江大學物理學系
    日期: 1986
    上传时间: 2009-12-31 10:52:49 (UTC+8)
    出版者: Elsevier
    摘要: The interference fringes, or electron Ronchigrams, appearing in the shadow images of thin periodic objects may be used for calibration of the operating parameters of a scanning transmission electron microscopy (STEM) instrument. The determination of the spherical aberration constant is more simple and direct than by other means used in electron or light optics. The calibrated value for the spherical aberration may then be used in the determination of other primary aberrations.
    關聯: Ultramicroscopy 19(1), pp.31-42
    DOI: 10.1016/0304-3991(86)90005-7
    显示于类别:[物理學系暨研究所] 期刊論文

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