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    題名: Calibration of the operating parameters for an HB5 STEM instrument
    作者: 林震安;Lin, J. A.;Cowley, John M.
    貢獻者: 淡江大學物理學系
    日期: 1986
    上傳時間: 2009-12-31 10:52:49 (UTC+8)
    出版者: Elsevier
    摘要: The interference fringes, or electron Ronchigrams, appearing in the shadow images of thin periodic objects may be used for calibration of the operating parameters of a scanning transmission electron microscopy (STEM) instrument. The determination of the spherical aberration constant is more simple and direct than by other means used in electron or light optics. The calibrated value for the spherical aberration may then be used in the determination of other primary aberrations.
    關聯: Ultramicroscopy 19(1), pp.31-42
    DOI: 10.1016/0304-3991(86)90005-7
    顯示於類別:[物理學系暨研究所] 期刊論文

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