偏常態加速破壞衰變模型之貝氏方法

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Title:	偏常態加速破壞衰變模型之貝氏方法
Other Titles:	Bayesian Approach for Skew-Normal Accelerated Destructive Degradation Model
Authors:	Chen, I. J.;Wu, Y. J.;Tsai, C. C.*
Keywords:	高可靠度產品;加速破壞衰變試驗;偏常態分配
Date:	2023-09
Issue Date:	2024-03-11 12:05:14 (UTC+8)
Publisher:	中國統計學社
Abstract:	高可靠度產品使用傳統的加速壽命試驗技巧，在給定合理測試時間內，往往無法獲得足夠的失效資料，使得產品壽命推估上造成困難。加速衰變試驗（accelerated degradation test, ADT）測量產品隨著時間衰變的品質特徵值（quality characteristics, QC），藉由這些品質特徵值衰變訊息，可提供較精準的產品壽命推估。某些特定實驗的樣本量測，需經過破壞測試樣本，才可測得其品質特徵值，此加速衰變資料的實驗，稱之加速破壞衰變試驗（accelerated destructive degradation test, ADDT）。針對聚合物材料（polymer material）之ADDT資料，所建構出的非線性偏常態ADDT衰變模型，本文以貝氏方法（Bayesian method），提高估計的精確度，進而有效地估得產品壽命，與描述聚合物材料的衰變路徑。最後以模擬分析方式，與傳統的最大概似估計法（maximum likelihood estimator, MLE）進行比較，來探討所提出模型之參數估計的精準性。
Relation:	Journal of the Chinese Statistical Association 61(3), p.207-230
Appears in Collections:	[資訊工程學系暨研究所] 期刊論文

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