English  |  正體中文  |  简体中文  |  Items with full text/Total items : 62830/95882 (66%)
Visitors : 4033777      Online Users : 969
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library & TKU Library IR team.
Scope Tips:
  • please add "double quotation mark" for query phrases to get precise results
  • please goto advance search for comprehansive author search
  • Adv. Search
    HomeLoginUploadHelpAboutAdminister Goto mobile version
    Please use this identifier to cite or link to this item: https://tkuir.lib.tku.edu.tw/dspace/handle/987654321/123992


    Title: 光學檢測系統及其檢測方法
    Authors: 毛偉龍;陳瑩娟;吳奕廷;賴世聰;游承硯;張登文;蕭吉甫;林建州;徐榮祥
    Date: 2022-07
    Issue Date: 2023-04-28 21:49:23 (UTC+8)
    Abstract: 本發明係關於一種光學檢測系統。該光學檢測系統包括自動控制設備、光源及控制檢測模組,其中自動控制設備具有影像感測器,並且控制檢測模組包含有路徑單元、比對單元以及顯示單元。首先,藉由路徑單元運算出路徑資訊做為自動控制設備的移動路徑,接著使用者根據路徑資訊,排除移動路徑中具有大幅度的檢測角度者,以產生最佳移動路徑資訊,之後使用者根據最佳移動路徑資訊,各自啟動或關閉每一個光源,隨後自動控制設備沿最佳移動路徑移動,藉由光感測器產生影像資訊,最後藉由比對模組辨識影像資訊上所存在的瑕疵以產生比對影像資訊,並透過顯示器顯示比對影像資訊。藉此檢測待測物上所存在的瑕疵,達成檢測瑕疵以及減少檢測時間等目的。
    Appears in Collections:[Graduate Institute & Department of Architecture] Patent

    Files in This Item:

    There are no files associated with this item.

    All items in 機構典藏 are protected by copyright, with all rights reserved.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library & TKU Library IR teams. Copyright ©   - Feedback