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    题名: 表面缺陷識別系統
    其它题名: SURFACE DEFECT RECOGNITION SYSTEM
    作者: 蔡奇謚;陳浩瑋;陳冠任
    日期: 2020/11/17
    上传时间: 2022-03-10 12:18:43 (UTC+8)
    摘要: 本案提供一種表面缺陷識別系統，包含至少一影像擷取裝置以及一計算機。影像擷取裝置係擷取一目標物之至少一表面影像，計算機根據一神經網路模型對表面影像進行運算，以判斷表面影像是否存在缺陷。此神經網路模型包含一特徵擷取層以及一缺陷識別層，特徵擷取層包含複數串接之特徵擷取模組，以利用特徵擷取模組對表面影像進行特徵擷取，以輸出複數提取特徵圖；其中每一特徵擷取模組包含一使用3*3卷積核之卷積模組以及一殘差模組。缺陷識別層連接特徵擷取層，並根據提取特徵圖進行分類，以產生一識別結果。
    显示于类别:[電機工程學系暨研究所] 專利

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