一種基於測試模式特性的低功耗測試架構

機構典藏 > College of Engineering > Graduate Institute & Department of Electrical Engineering > Proceeding > Item 987654321/118308

Please use this identifier to cite or link to this item: https://tkuir.lib.tku.edu.tw/dspace/handle/987654321/118308

Title:	一種基於測試模式特性的低功耗測試架構
Authors:	王嘉祥;饒建奇
Keywords:	低功率消耗;切換活動;掃描移入模式;Low power;Switch activity;Scan-in pattern
Date:	2019-11-08
Issue Date:	2020-03-17 12:10:21 (UTC+8)
Abstract:	超大型積體電路（VLSI）技術的推進，壓縮技術使得單個晶片中存在數十億個邏輯閘。VLSI技術的快速發展給設計和測試工程師帶來了新的困難，在這些困難中，大型測試的功耗是重要的問題之一。本文介紹了一種掃描架構，通過修改測試應用程序中的測試樣本，實現了高質量和低功耗測試。當測試樣本在每個移位中切換大量的掃描正反器，會降低電路的穩定性，造成故障驗證困難，產品良率下降和壽命縮短等，是個嚴重的問題。論文架構中解決了部分的位移功率，使用一個方法來降低掃描正反器切換次數，減少由測試樣本移入而引起的切換活動，該方法在掃描移入操作期間計算掃描正反器的切換活動，選擇合適的掃描路徑以移入測試樣本。
Appears in Collections:	[Graduate Institute & Department of Electrical Engineering] Proceeding

Files in This Item:

File	Size	Format
index.html	0Kb	HTML	127	View/Open