淡江大學機構典藏:Item 987654321/118192
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 62805/95882 (66%)
造访人次 : 3935684      在线人数 : 842
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library & TKU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧：
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号"，以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻，建议至进阶搜寻限定作者字段，可获得较完整数据
    •  进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: https://tkuir.lib.tku.edu.tw/dspace/handle/987654321/118192


    题名: Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A Modification of the Hosmer-Lemeshow Test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
    作者: Li-Ching Chen;Jiun-Yi Wang
    日期: 2020-01-02
    上传时间: 2020-03-07 12:10:49 (UTC+8)
    關聯: Biometrics 76(2), p.569-571
    DOI: 10.1111/biom.13255
    显示于类别:[統計學系暨研究所] 期刊論文

    文件中的档案:

    档案 大小格式浏览次数
    index.html0KbHTML29检视/开启

    在機構典藏中所有的数据项都受到原著作权保护.

    TAIR相关文章

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library & TKU Library IR teams. Copyright ©   - 回馈