淡江大學機構典藏:Item 987654321/116645
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    題名: Package mTEXO for testing the presence of outliers in exponential samples
    作者: Lin, Chien-tai;Lee, Ying-chen;Balakrishnan, Narayanaswamy
    日期: 2018-07-28
    上傳時間: 2019-05-14 12:11:04 (UTC+8)
    摘要: We develop an user-interface package mTEXO in the Maplet application for testing exponential upper and/or lower outliers. The distributions of some well-known test statistics for exponential outliers in the literature can be easily evaluated using mTEXO, saving considerable computational time performing numerical integrations and combinatorial algebra necessary in the traditional approach.
    DOI: 10.1007/s00180-018-0843-6
    顯示於類別:[數學學系暨研究所] 會議論文

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